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Determination of the deposition order of overlapping latent fingerprints and inks using secondary ion mass spectrometry.
Bright, Nicholas J; Webb, Roger P; Bleay, Stephen; Hinder, Steven; Ward, Neil I; Watts, John F; Kirkby, Karen J; Bailey, Melanie J.
Afiliación
  • Bright NJ; Surrey Ion Beam Centre, Advanced Technology Institute, University of Surrey, Guildford, Surrey, GU2 7XH.
Anal Chem ; 84(9): 4083-7, 2012 May 01.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22462501
Asunto(s)
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Espectrometría de Masa de Ion Secundario / Dermatoglifia / Tinta Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Evaluation_studies / Prognostic_studies Límite: Humans Idioma: En Revista: Anal Chem Año: 2012 Tipo del documento: Article
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