Single defect center scanning near-field optical microscopy on graphene.

Tisler, Julia; Oeckinghaus, Thomas; Stöhr, Rainer J; Kolesov, Roman; Reuter, Rolf; Reinhard, Friedemann; Wrachtrup, Jörg

Tisler, Julia; Oeckinghaus, Thomas; Stöhr, Rainer J; Kolesov, Roman; Reuter, Rolf; Reinhard, Friedemann; Wrachtrup, Jörg.

Afiliación

Tisler J; 3. Institute of Physics, Stuttgart University , 70550 Stuttgart, Germany.

Nano Lett ; 13(7): 3152-6, 2013 Jul 10.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23795752

Asunto(s)

Grafito/química; Aumento de la Imagen/métodos; Ensayo de Materiales/métodos; Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Nanopartículas/química; Nanopartículas/ultraestructura; Propiedades de Superficie

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Ensayo de Materiales / Aumento de la Imagen / Microscopía de Fuerza Atómica / Nanopartículas / Grafito Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania

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