Molecular depth profiling of organic photovoltaic heterojunction layers by ToF-SIMS: comparative evaluation of three sputtering beams. | Analyst;138(22): 6801-10, 2013 Nov 21. | MEDLINE

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Molecular depth profiling of organic photovoltaic heterojunction layers by ToF-SIMS: comparative evaluation of three sputtering beams.

Mouhib, T; Poleunis, C; Wehbe, N; Michels, J J; Galagan, Y; Houssiau, L; Bertrand, P; Delcorte, A.

Afiliación

Mouhib T; Ecole Supérieure de Technologie, Université Hassan 1er, Passage d'Alger, B.P.: 218, 26100 Berrechid, Morocco.

Analyst ; 138(22): 6801-10, 2013 Nov 21.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24058924

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Qualitative_research Idioma: En Revista: Analyst Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Marruecos

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