Microscopy and microanalysis of complex nanosized strengthening precipitates in new generation commercial Al-Cu-Li alloys. | J Microsc;255(3): 128-37, 2014 Sep. | MEDLINE

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Microscopy and microanalysis of complex nanosized strengthening precipitates in new generation commercial Al-Cu-Li alloys.

Guinel, M J-F; Brodusch, N; Sha, G; Shandiz, M A; Demers, H; Trudeau, M; Ringer, S P; Gauvin, R.

Afiliación

Guinel MJ; Departments of Chemistry and Physics, College of Natural Sciences, University of Puerto Rico, San Juan, Puerto Rico.

J Microsc ; 255(3): 128-37, 2014 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24894808

Palabras clave

Atom probe tomography; Monte Carlo simulations; X-ray energy-dispersive spectrometry (XEDS); detection limit; electron energy-loss spectroscopy (EELS); electron microscopy

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2014 Tipo del documento: Article País de afiliación: Puerto Rico

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