Novel combined measurement system to characterize film structures by spectral interferometry and ellipsometry.
Opt Express
; 26(26): 34396-34411, 2018 Dec 24.
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| MEDLINE
| ID: mdl-30650862
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Banco de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Opt Express
Asunto de la revista:
OFTALMOLOGIA
Año:
2018
Tipo del documento:
Article