Stress-Induced Crystallization of Thin Hf1- XZr XO2 Films: The Origin of Enhanced Energy Density with Minimized Energy Loss for Lead-Free Electrostatic Energy Storage Applications.
ACS Appl Mater Interfaces
; 11(5): 5208-5214, 2019 Feb 06.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-30652846
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Banco de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
ACS Appl Mater Interfaces
Asunto de la revista:
BIOTECNOLOGIA
/
ENGENHARIA BIOMEDICA
Año:
2019
Tipo del documento:
Article