Evaluation of the Defect Cluster Content in Singly and Doubly Doped Ceria through In Situ High-Pressure X-ray Diffraction.
Inorg Chem
; 60(10): 7306-7314, 2021 May 17.
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| ID: mdl-33929819
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
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MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Inorg Chem
Año:
2021
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Article
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Italia