Atomic Resolution Tomography on Simulated Amorphous Silicon Nanoparticles. | Microsc Microanal;29(Supplement_1): 1390-1391, 2023 Jul 22. | MEDLINE

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Atomic Resolution Tomography on Simulated Amorphous Silicon Nanoparticles.

Busch, Robert; Rez, Peter; Treacy, Michael M J; Zuo, Jian-Min.

Afiliación

Busch R; Department of Materials Science and Engineering, University of Illinois - Urbana-Champaign, Urbana, IL, United States.
Rez P; Materials Research Laboratory, University of Illinois at Urbana-Champaign, Urbana, IL, United States.
Treacy MMJ; Department of Physics, Arizona State University, Tempe, Arizona, United States.
Zuo JM; Department of Physics, Arizona State University, Tempe, Arizona, United States.

Microsc Microanal ; 29(Supplement_1): 1390-1391, 2023 Jul 22.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37613580

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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