Measurement of the thickness and refractive index of a thin film by analyzing reflected interference fringes. | Appl Opt;62(30): 8018-8024, 2023 Oct 20. | MEDLINE

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Measurement of the thickness and refractive index of a thin film by analyzing reflected interference fringes.

Kim, Deok Woo; Kwon, Minjae; Park, Soobong; Kim, Byoung Joo; Cha, Myoungsik.

Appl Opt ; 62(30): 8018-8024, 2023 Oct 20.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-38038096

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 2023 Tipo del documento: Article

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