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Structure determination of the hexagonal quasicrystal approximant micro'-(Al,Si)4Cr by the strong reflections approach.
He, Z B; Zou, X D; Hovmöller, S; Oleynikov, P; Kuo, K H.
Afiliação
  • He ZB; Department of Materials Technology, Dalian University of Technology, 116024 Dalian, China.
Ultramicroscopy ; 107(6-7): 495-500, 2007.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17234348
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article País de afiliação: China
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