Feedback effects in combined fast-scan cyclic voltammetry-scanning electrochemical microscopy.

Schrock, Daniel S; Wipf, David O; Baur, John E

Schrock, Daniel S; Wipf, David O; Baur, John E.

Afiliação

Schrock DS; Department of Chemistry, Illinois State University, Normal, Illinois 61790-4160, USA.

Anal Chem ; 79(13): 4931-41, 2007 Jul 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17550230

Assuntos

Microscopia de Varredura por Sonda/métodos; Platina/química; Compostos de Rutênio/análise; Carbono/química; Difusão; Condutividade Elétrica; Eletroquímica; Eletrodos; Oxirredução; Compostos de Rutênio/química; Sensibilidade e Especificidade; Soluções/química; Fatores de Tempo

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Platina / Compostos de Rutênio / Microscopia de Varredura por Sonda Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Anal Chem Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google