An instrument for combining x-ray multiple diffraction and x-ray topographic imaging for examining crystal microcrystallography and perfection. | Rev Sci Instrum;80(3): 033705, 2009 Mar. | MEDLINE

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An instrument for combining x-ray multiple diffraction and x-ray topographic imaging for examining crystal microcrystallography and perfection.

Lai, X; Ma, C Y; Roberts, K J; Cardoso, L P; dos Santos, A O; Bogg, D; Miller, M C.

Afiliação

Lai X; Institute of Particle Science and Engineering, School of Process, Environmental and Materials Engineering, The University of Leeds, Leeds LS2 9JT, United Kingdom.

Rev Sci Instrum ; 80(3): 033705, 2009 Mar.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19334925

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido

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