Scanning ion conductance microscopy: a model for experimentally realistic conditions and image interpretation.

Edwards, Martin A; Williams, Cara G; Whitworth, Anna L; Unwin, Patrick R

Edwards, Martin A; Williams, Cara G; Whitworth, Anna L; Unwin, Patrick R.

Afiliação

Edwards MA; Department of Chemistry, University of Warwick, Coventry CV4 7AL, UK.

Anal Chem ; 81(11): 4482-92, 2009 Jun 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19405486

Assuntos

Eletroquímica/métodos; Processamento de Imagem Assistida por Computador/métodos; Microscopia de Varredura por Sonda/instrumentação; Microscopia de Varredura por Sonda/métodos; Simulação por Computador; Condutividade Elétrica; Eletroquímica/instrumentação; Eletrodos; Eletrólitos/química; Modelos Químicos; Propriedades de Superfície

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Processamento de Imagem Assistida por Computador / Microscopia de Varredura por Sonda / Eletroquímica Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Anal Chem Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido

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