The mechanism of electroforming of metal oxide memristive switches.

Joshua Yang, J; Miao, Feng; Pickett, Matthew D; Ohlberg, Douglas A A; Stewart, Duncan R; Lau, Chun Ning; Williams, R Stanley

Joshua Yang, J; Miao, Feng; Pickett, Matthew D; Ohlberg, Douglas A A; Stewart, Duncan R; Lau, Chun Ning; Williams, R Stanley.

Afiliação

Joshua Yang J; Information and Quantum Systems Lab, Hewlett-Packard Laboratories, Palo Alto, CA 94304, USA.

Nanotechnology ; 20(21): 215201, 2009 May 27.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19423925

Assuntos

Eletroquímica/métodos; Armazenamento e Recuperação da Informação; Metais/química; Modelos Químicos; Óxidos/química; Processamento de Sinais Assistido por Computador/instrumentação; Simulação por Computador; Impedância Elétrica; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Óxidos / Processamento de Sinais Assistido por Computador / Armazenamento e Recuperação da Informação / Eletroquímica / Metais / Modelos Químicos Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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