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Structural and chemical characterization of TiO2 memristive devices by spatially-resolved NEXAFS.
Strachan, John Paul; Joshua Yang, J; Münstermann, Ruth; Scholl, Andreas; Medeiros-Ribeiro, Gilberto; Stewart, Duncan R; Stanley Williams, R.
Afiliação
  • Strachan JP; Hewlett-Packard Labs, 1501 Page Mill Road, Palo Alto, CA 94304, USA.
Nanotechnology ; 20(48): 485701, 2009 Dec 02.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19880979
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos
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