Analytical electron tomography mapping of the SiC pore oxidation at the nanoscale.

Florea, Ileana; Ersen, Ovidiu; Hirlimann, Charles; Roiban, Lucian; Deneuve, Adrien; Houllé, Matthieu; Janowska, Izabela; Nguyen, Patrick; Pham, Charlotte; Pham-Huu, Cuong

Florea, Ileana; Ersen, Ovidiu; Hirlimann, Charles; Roiban, Lucian; Deneuve, Adrien; Houllé, Matthieu; Janowska, Izabela; Nguyen, Patrick; Pham, Charlotte; Pham-Huu, Cuong.

Afiliação

Florea I; Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg, CNRS-Université de Strasbourg (UDS) UMR 7504, 23, rue du Loess, BP 43, 67037, Strasbourg cedex 02, France.

Nanoscale ; 2(12): 2668-78, 2010 Dec.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20938516

Assuntos

Compostos Inorgânicos de Carbono/química; Compostos de Silício/química; Catálise; Nanopartículas/química; Nanopartículas/ultraestrutura; Nanotecnologia; Oxirredução; Espectroscopia Fotoeletrônica; Porosidade

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Compostos de Silício / Compostos Inorgânicos de Carbono Idioma: En Revista: Nanoscale Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: França

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