Quantum confinement induced performance enhancement in sub-5-nm lithographic Si nanowire transistors.

Trivedi, Krutarth; Yuk, Hyungsang; Floresca, Herman Carlo; Kim, Moon J; Hu, Walter

Trivedi, Krutarth; Yuk, Hyungsang; Floresca, Herman Carlo; Kim, Moon J; Hu, Walter.

Afiliação

Trivedi K; Department of Electrical Engineering, University of Texas at Dallas, Richardson, Texas 75080, United States.

Nano Lett ; 11(4): 1412-7, 2011 Apr 13.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21375286

Assuntos

Nanoestruturas/química; Fotografação/métodos; Silício/química; Transistores Eletrônicos; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Nanoestruturas/ultraestrutura; Tamanho da Partícula; Teoria Quântica

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Silício / Transistores Eletrônicos / Fotografação / Nanoestruturas Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google