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Measuring the switching dynamics and energy efficiency of tantalum oxide memristors.
Strachan, John Paul; Torrezan, Antonio C; Medeiros-Ribeiro, Gilberto; Williams, R Stanley.
Afiliação
  • Strachan JP; nanoElectronics Research Group, HP Labs, 1501 Page Mill Road, Palo Alto, CA 94304, USA. john-paul.strachan@hp.com
Nanotechnology ; 22(50): 505402, 2011 Dec 16.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22108243
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos
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