Design and performance of a combined secondary ion mass spectrometry-scanning probe microscopy instrument for high sensitivity and high-resolution elemental three-dimensional analysis. | Rev Sci Instrum;83(6): 063702, 2012 Jun. | MEDLINE

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Design and performance of a combined secondary ion mass spectrometry-scanning probe microscopy instrument for high sensitivity and high-resolution elemental three-dimensional analysis.

Wirtz, Tom; Fleming, Yves; Gerard, Mathieu; Gysin, Urs; Glatzel, Thilo; Meyer, Ernst; Wegmann, Urs; Maier, Urs; Odriozola, Aitziber Herrero; Uehli, Daniel.

Afiliação

Wirtz T; Department Science and Analysis of Materials (SAM), Centre de Recherche Public, Gabriel Lippmann, 41 rue du Brill, L-4422 Belvaux, Luxembourg. wirtz@lippmann.lu

Rev Sci Instrum ; 83(6): 063702, 2012 Jun.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22755629

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Luxemburgo

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