Effect of manganese and vanadium valences on microstructures and reliability of BaTiO3-based multi-layer ceramic capacitors. | IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control;59(9): 1996-2003, 2012 Sep. | MEDLINE

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Effect of manganese and vanadium valences on microstructures and reliability of BaTiO3-based multi-layer ceramic capacitors.

Natsui, Hidesada; Shibahara, Takeshi; Yonezawa, Yu; Kido, Osamu.

Afiliação

Natsui H; Material & Process Development Center, Corporate R&D Group, Technology HQ, TDK Corporation, Narita, Japan. natsui@jp.tdk.com

IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control ; 59(9): 1996-2003, 2012 Sep.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23007773

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control Assunto da revista: MEDICINA NUCLEAR Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Japão

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