Soft X-ray absorption spectroscopy and resonant inelastic X-ray scattering spectroscopy below 100 eV: probing first-row transition-metal M-edges in chemical complexes.

Wang, Hongxin; Young, Anthony T; Guo, Jinghua; Cramer, Stephen P; Friedrich, Stephan; Braun, Artur; Gu, Weiwei

Wang, Hongxin; Young, Anthony T; Guo, Jinghua; Cramer, Stephen P; Friedrich, Stephan; Braun, Artur; Gu, Weiwei.

Afiliação

Wang H; Department of Chemistry, University of California, 1 Shields Avenue, Davis, CA 95616, USA. hxwang2@lbl.gov

J Synchrotron Radiat ; 20(Pt 4): 614-9, 2013 Jul.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23765304

Assuntos

Metais/química; Espalhamento de Radiação; Semicondutores; Espectroscopia por Absorção de Raios X

Palavras-chave

3d metal M-edge; resonance inelastic X-ray scattering (RIXS); soft X-ray absorption spectroscopy (XAS); superconducting tunnel junction (STJ) X-ray detector

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Metais Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Assunto da revista: RADIOLOGIA Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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