A Semi-Automated Positioning System for contact-mode Atomic Force Microscopy (AFM).

Roy, Rajarshi; Chen, Wenjin; Cong, Lei; Goodell, Lauri A; Foran, David J; Desai, Jaydev P

Roy, Rajarshi; Chen, Wenjin; Cong, Lei; Goodell, Lauri A; Foran, David J; Desai, Jaydev P.

Afiliação

Roy R; Robotics, Automation, and Medical Systems (RAMS) Laboratory at the University of Maryland, College Park MD 20742 USA rroy12@umd.edu.

IEEE Trans Autom Sci Eng ; 10(2)2013 Apr.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24294144

Palavras-chave

Atomic Force Microscopy; Biomechanics

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https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3840952
https://dx.doi.org/10.1109/TASE.2012.2226154

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: IEEE Trans Autom Sci Eng Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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