Bias modulated scanning ion conductance microscopy. | Anal Chem;86(7): 3639-46, 2014 Apr 01. | MEDLINE

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Bias modulated scanning ion conductance microscopy.

McKelvey, Kim; Perry, David; Byers, Joshua C; Colburn, Alex W; Unwin, Patrick R.

Afiliação

McKelvey K; Department of Chemistry and MOAC Doctoral Training Centre, University of Warwick , Coventry, CV4 7AL, United Kingdom.

Anal Chem ; 86(7): 3639-46, 2014 Apr 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24617313

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Anal Chem Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido

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