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Defining and overcoming the contact resistance challenge in scaled carbon nanotube transistors.
Franklin, Aaron D; Farmer, Damon B; Haensch, Wilfried.
Afiliação
  • Franklin AD; IBM T. J. Watson Research Center , Yorktown Heights, New York 10598, United States.
ACS Nano ; 8(7): 7333-9, 2014 Jul 22.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24999536

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Nano Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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