Robust formation of Skyrmions and topological Hall effect anomaly in epitaxial thin films of MnSi.
Phys Rev Lett
; 110(11): 117202, 2013 Mar 15.
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em En
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| ID: mdl-25166569
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Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Ano de publicação:
2013
Tipo de documento:
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