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Super-Resolved Traction Force Microscopy (STFM).
Colin-York, Huw; Shrestha, Dilip; Felce, James H; Waithe, Dominic; Moeendarbary, Emad; Davis, Simon J; Eggeling, Christian; Fritzsche, Marco.
Afiliação
  • Moeendarbary E; Department of Biological Engineering, Massachusetts Institute of Technology , Cambridge, Massachusetts 02142, United States.
  • Davis SJ; Department of Mechanical Engineering, University College London , WC1E 7JE London, United Kingdom.
Nano Lett ; 16(4): 2633-8, 2016 Apr 13.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26923775

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Tração / Simulação por Computador / Microscopia de Varredura por Sonda / Modelos Teóricos Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Tração / Simulação por Computador / Microscopia de Varredura por Sonda / Modelos Teóricos Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article