Super-Resolved Traction Force Microscopy (STFM).
Nano Lett
; 16(4): 2633-8, 2016 Apr 13.
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em En
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| ID: mdl-26923775
Palavras-chave
Texto completo:
1
Coleções:
01-internacional
Base de dados:
MEDLINE
Assunto principal:
Tração
/
Simulação por Computador
/
Microscopia de Varredura por Sonda
/
Modelos Teóricos
Idioma:
En
Revista:
Nano Lett
Ano de publicação:
2016
Tipo de documento:
Article