Single-Ion Deconvolution of Mass Peak Overlaps for Atom Probe Microscopy. | Microsc Microanal;23(2): 300-306, 2017 04. | MEDLINE

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Single-Ion Deconvolution of Mass Peak Overlaps for Atom Probe Microscopy.

London, Andrew J; Haley, Daniel; Moody, Michael P.

Afiliação

London AJ; Department of Materials Science,University of Oxford,16 Parks Rd,Oxford OX1 3PH,UK.
Haley D; Department of Materials Science,University of Oxford,16 Parks Rd,Oxford OX1 3PH,UK.
Moody MP; Department of Materials Science,University of Oxford,16 Parks Rd,Oxford OX1 3PH,UK.

Microsc Microanal ; 23(2): 300-306, 2017 04.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28300014

Palavras-chave

atom probe tomography; atomic-scale analysis; mass spectrum analysis; peak deconvolution; peak overlaps

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido

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