Apparatus to investigate the insulation impedance and accelerated life-testing of neural interfaces.

Donaldson, N; Lamont, C; Idil, A Shah; Mentink, M; Perkins, T

Donaldson, N; Lamont, C; Idil, A Shah; Mentink, M; Perkins, T.

Afiliação

Donaldson N; Implanted Devices Group, University College London, Gower Street, London, WC1E 6BT, United Kingdom.

J Neural Eng ; 15(6): 066034, 2018 12.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-30178761

Assuntos

Impedância Elétrica; Eletrodos Implantados; Análise de Falha de Equipamento/métodos; Materiais Revestidos Biocompatíveis; Simulação por Computador; Falha de Equipamento; Humanos; Microeletrodos; Temperatura; Análise de Ondaletas

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Impedância Elétrica / Análise de Falha de Equipamento / Eletrodos Implantados Limite: Humans Idioma: En Revista: J Neural Eng Assunto da revista: NEUROLOGIA Ano de publicação: 2018 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido

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