Whole-Genome Mapping of Stripe Rust Resistance Quantitative Trait Loci and Race Specificity Related to Resistance Reduction in Winter Wheat Cultivar Eltan.

Liu, Lu; Wang, Meinan; Feng, Junyan; See, Deven R; Chen, Xianming

Liu, Lu; Wang, Meinan; Feng, Junyan; See, Deven R; Chen, Xianming.

Afiliação

Liu L; 1 Department of Plant Pathology, Washington State University, Pullman 99164-6430, WA, U.S.A.
Wang M; 1 Department of Plant Pathology, Washington State University, Pullman 99164-6430, WA, U.S.A.
Feng J; 1 Department of Plant Pathology, Washington State University, Pullman 99164-6430, WA, U.S.A.
See DR; 2 Institute of Biotechnology and Nuclear Technology Research, Sichuan Academy of Agricultural Sciences, Chengdu 610061, China; and.
Chen X; 1 Department of Plant Pathology, Washington State University, Pullman 99164-6430, WA, U.S.A.

Phytopathology ; 109(7): 1226-1235, 2019 Jul.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-30730788

Assuntos

Basidiomycota; Resistência à Doença/genética; Doenças das Plantas/genética; Triticum; Mapeamento Cromossômico; Doenças das Plantas/microbiologia; Locos de Características Quantitativas; Triticum/genética; Triticum/microbiologia; Washington

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Doenças das Plantas / Basidiomycota / Triticum / Resistência à Doença Tipo de estudo: Prognostic_studies País/Região como assunto: America do norte Idioma: En Revista: Phytopathology Assunto da revista: BOTANICA Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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