Loss assessment in random crystal polarity gallium phosphide microdisks grown on silicon.

Saleem-Urothodi, Rasool; Le Pouliquen, Julie; Rohel, Tony; Bernard, Rozenn; Pareige, Christelle; Lorenzo-Ruiz, Alejandro; Beck, Alexandre; Létoublon, Antoine; De Sagazan, Olivier; Cornet, Charles; Dumeige, Yannick; Léger, Yoan

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Loss assessment in random crystal polarity gallium phosphide microdisks grown on silicon.

Saleem-Urothodi, Rasool; Le Pouliquen, Julie; Rohel, Tony; Bernard, Rozenn; Pareige, Christelle; Lorenzo-Ruiz, Alejandro; Beck, Alexandre; Létoublon, Antoine; De Sagazan, Olivier; Cornet, Charles; Dumeige, Yannick; Léger, Yoan.

Opt Lett ; 45(16): 4646-4649, 2020 Aug 15.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32797031

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Clinical_trials Idioma: En Revista: Opt Lett Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article

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