Spatiotemporal Imaging of Thickness-Induced Band-Bending Junctions.
Nano Lett
; 21(13): 5745-5753, 2021 07 14.
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em En
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| ID: mdl-34152777
Palavras-chave
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1
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01-internacional
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Assunto principal:
Diagnóstico por Imagem
Tipo de estudo:
Diagnostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Nano Lett
Ano de publicação:
2021
Tipo de documento:
Article