High resolution 3D x-ray diffraction microscopy.

Miao, Jianwei; Ishikawa, Tetsuya; Johnson, Bart; Anderson, Erik H; Lai, Barry; Hodgson, Keith O

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High resolution 3D x-ray diffraction microscopy.

Miao, Jianwei; Ishikawa, Tetsuya; Johnson, Bart; Anderson, Erik H; Lai, Barry; Hodgson, Keith O.

Afiliación

Miao J; Stanford Synchrotron Radiation Laboratory, Stanford Linear Accelerator Center, Stanford University, Stanford, California 94309-0210, USA. miao@ssrl.slac.stanford.edu

Phys Rev Lett ; 89(8): 088303, 2002 Aug 19.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-12190506

Asunto(s)

Microscopía/métodos; Difracción de Rayos X/métodos

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Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Difracción de Rayos X / Microscopía Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2002 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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