Performance of a dispersion-compensating scanning X-ray spectrometer for Compton profile measurements. | J Synchrotron Radiat;12(Pt 5): 670-4, 2005 Sep. | MEDLINE

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Performance of a dispersion-compensating scanning X-ray spectrometer for Compton profile measurements.

Hiraoka, N; Buslaps, T; Honkimäki, V; Suortti, P.

Afiliación

Hiraoka N; Synchrotron Radiation Facility (ESRF), BP 220, 38043 Grenoble CEDEX 9, France. hiraoka@spring8.or.jp

J Synchrotron Radiat ; 12(Pt 5): 670-4, 2005 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-16120993

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Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Asunto de la revista: RADIOLOGIA Año: 2005 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia

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