Your browser doesn't support javascript.
loading
The fractional Talbot effect in differential x-ray phase-contrast imaging for extended and polychromatic x-ray sources.
Engelhardt, M; Kottler, C; Bunk, O; David, C; Schroer, C; Baumann, J; Schuster, M; Pfeiffer, F.
Afiliación
  • Engelhardt M; Siemens AG, München, Germany. martin.engelhardt@mytum.de
J Microsc ; 232(1): 145-57, 2008 Oct.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19017212

Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania

Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania