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Dynamic behavior of amplitude detection Kelvin force microscopy in ultrahigh vacuum.
Diesinger, H; Deresmes, D; Nys, J-P; Mélin, T.
Afiliación
  • Diesinger H; Institut d'Electronique, Microélectronique et Nanotechnologie (IEMN), CNRS UMR 8520, B.P. 60069, Avenue Poincaré, 59652 Villeneuve d'Ascq, France. heinrich.diesinger@isen.iemn.univ-lille1.fr
Ultramicroscopy ; 110(2): 162-9, 2010 Jan.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19939564
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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Prognostic_studies Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia
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