Time and frequency domain measurements of solitons in subwavelength silicon waveguides using a cross-correlation technique.

Ding, W; Gorbach, A V; Wadswarth, W J; Knight, J C; Skryabin, D V; Strain, M J; Sorel, M; De La Rue, R M

Ding, W; Gorbach, A V; Wadswarth, W J; Knight, J C; Skryabin, D V; Strain, M J; Sorel, M; De La Rue, R M.

Afiliación

Ding W; Centre for Photonics and Photonic Materials, Department of Physics, University of Bath, Bath BA2 7AY, United Kingdom. w.ding@bath.ac.uk

Opt Express ; 18(25): 26625-30, 2010 Dec 06.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21165011

Asunto(s)

Interpretación Estadística de Datos; Modelos Estadísticos; Refractometría/instrumentación; Silicio/química; Simulación por Computador; Diseño Asistido por Computadora; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo; Luz; Dispersión de Radiación; Estadística como Asunto

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Refractometría / Silicio / Interpretación Estadística de Datos / Modelos Estadísticos Tipo de estudio: Risk_factors_studies Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google