Detection of deep-subwavelength dielectric layers at terahertz frequencies using semiconductor plasmonic resonators.

Berrier, Audrey; Albella, Pablo; Poyli, M Ameen; Ulbricht, Ronald; Bonn, Mischa; Aizpurua, Javier; Rivas, Jaime Gómez

Berrier, Audrey; Albella, Pablo; Poyli, M Ameen; Ulbricht, Ronald; Bonn, Mischa; Aizpurua, Javier; Rivas, Jaime Gómez.

Afiliación

Berrier A; FOM Institute AMOLF, Centre for Nanophotonics, c/o Philips Research Laboratories, HTC4, 5656AE Eindhoven, The Netherlands. a.berrier@amolf.nl

Opt Express ; 20(5): 5052-60, 2012 Feb 27.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22418310

Asunto(s)

Conductometría/instrumentación; Dispositivos Ópticos; Semiconductores; Resonancia por Plasmón de Superficie/instrumentación; Transductores; Impedancia Eléctrica; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo; Radiación Terahertz

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Semiconductores / Transductores / Conductometría / Resonancia por Plasmón de Superficie / Dispositivos Ópticos Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Países Bajos

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