Electrically conducting, ultra-sharp, high aspect-ratio probes for AFM fabricated by electron-beam-induced deposition of platinum.
Ultramicroscopy
; 133: 62-6, 2013 Oct.
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1
Banco de datos:
MEDLINE
Asunto principal:
Platino (Metal)
/
Microscopía de Fuerza Atómica
Idioma:
En
Revista:
Ultramicroscopy
Año:
2013
Tipo del documento:
Article