Electrically conducting, ultra-sharp, high aspect-ratio probes for AFM fabricated by electron-beam-induced deposition of platinum.

Brown, Jason; Kocher, Paul; Ramanujan, Chandra S; Sharp, David N; Torimitsu, Keiichi; Ryan, John F

Brown, Jason; Kocher, Paul; Ramanujan, Chandra S; Sharp, David N; Torimitsu, Keiichi; Ryan, John F.

Afiliación

Brown J; Clarendon Laboratory, Department of Physics, University of Oxford, Oxford OX1 3PU, United Kingdom. Electronic address: jason.brown@physics.ox.ac.uk.

Ultramicroscopy ; 133: 62-6, 2013 Oct.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23770730

Asunto(s)

Microscopía de Fuerza Atómica/métodos; Platino (Metal)/química; Conductividad Eléctrica; Electrones; Oro/química

Palabras clave

AFM probes; Conducting AFM; Electron-beam-induced deposition

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Platino (Metal) / Microscopía de Fuerza Atómica Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2013 Tipo del documento: Article

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