Measuring the three-dimensional structure of ultrathin insulating films at the atomic scale. | ACS Nano;8(2): 1739-44, 2014 Feb 25. | MEDLINE

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Measuring the three-dimensional structure of ultrathin insulating films at the atomic scale.

Baumann, Susanne; Rau, Ileana G; Loth, Sebastian; Lutz, Christopher P; Heinrich, Andreas J.

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Baumann S; IBM Almaden Research Center , 650 Harry Road, San Jose, California 95120, United States.

ACS Nano ; 8(2): 1739-44, 2014 Feb 25.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24377286

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Nano Año: 2014 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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