Atomic-Resolution STEM Imaging of Graphene at Low Voltage of 30 kV with Resolution Enhancement by Using Large Convergence Angle.

Atomic-Resolution STEM Imaging of Graphene at Low Voltage of 30 kV with Resolution Enhancement by Using Large Convergence Angle.

Sawada, H; Sasaki, T; Hosokawa, F; Suenaga, K.

Afiliación

Sawada H; JEOL Ltd., 3-1-2 Musashino, Akishima, Tokyo 196-8558, Japan.
Sasaki T; JEOL Ltd., 3-1-2 Musashino, Akishima, Tokyo 196-8558, Japan.
Hosokawa F; JEOL Ltd., 3-1-2 Musashino, Akishima, Tokyo 196-8558, Japan.
Suenaga K; National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba 305-8565, Japan.

Phys Rev Lett ; 114(16): 166102, 2015 Apr 24.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25955058

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Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2015 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón

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