Thermal conductivity measurements of high and low thermal conductivity films using a scanning hot probe method in the 3ω mode and novel calibration strategies. | Nanoscale;7(37): 15404-12, 2015 Oct 07. | MEDLINE

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Thermal conductivity measurements of high and low thermal conductivity films using a scanning hot probe method in the 3ω mode and novel calibration strategies.

Wilson, Adam A; Muñoz Rojo, Miguel; Abad, Begoña; Perez, Jaime Andrés; Maiz, Jon; Schomacker, Jason; Martín-Gonzalez, Marisol; Borca-Tasciuc, Diana-Andra; Borca-Tasciuc, Theodorian.

Afiliación

Wilson AA; Department of Mechanical, Aerospace and Nuclear Engineering, Rensselaer Polytechnic Institute, 110 8th Street, Troy, NY 12180, USA. borcat@rpi.edu.

Nanoscale ; 7(37): 15404-12, 2015 Oct 07.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-26335503

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nanoscale Año: 2015 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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