Optical constants modelling in silicon nitride membrane transiently excited by EUV radiation.

Mincigrucci, R; Naumenko, D; Foglia, L; Nikolov, I; Pedersoli, E; Principi, E; Simoncig, A; Kiskinova, M; Masciovecchio, C; Bencivenga, F; Capotondi, F

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Optical constants modelling in silicon nitride membrane transiently excited by EUV radiation.

Mincigrucci, R; Naumenko, D; Foglia, L; Nikolov, I; Pedersoli, E; Principi, E; Simoncig, A; Kiskinova, M; Masciovecchio, C; Bencivenga, F; Capotondi, F.

Opt Express ; 26(9): 11877-11888, 2018 Apr 30.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29716104

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Qualitative_research Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2018 Tipo del documento: Article

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