Depth profiling of peptide films with TOF-SIMS and a C60 probe.

Cheng, Juan; Winograd, Nicholas

Cheng, Juan; Winograd, Nicholas.

Afiliação

Cheng J; Department of Chemistry, The Pennsylvania State University, 104 Chemistry Building, University Park, Pennsylvania 16802, USA.

Anal Chem ; 77(11): 3651-9, 2005 Jun 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-15924401

Assuntos

Fulerenos/química; Membranas Artificiais; Peptídeos/análise; Espectrometria de Massa de Íon Secundário; Peso Molecular; Sensibilidade e Especificidade; Espectrometria de Massa de Íon Secundário/instrumentação; Espectrometria de Massa de Íon Secundário/métodos

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Coleções: 01-internacional Temas: Geral Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Peptídeos / Espectrometria de Massa de Íon Secundário / Fulerenos / Membranas Artificiais Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Anal Chem Ano de publicação: 2005 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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