Work-site clinical and neurobehavioral assessment of solvent-exposed microelectronics workers.

Broadwell, D K; Darcey, D J; Hudnell, H K; Otto, D A; Boyes, W K

Broadwell, D K; Darcey, D J; Hudnell, H K; Otto, D A; Boyes, W K.

Afiliação

Broadwell DK; Division of Occupational and Environmental Medicine, Duke University Medical Center, Durham, NC, USA.

Am J Ind Med ; 27(5): 677-98, 1995 May.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-7611305

Assuntos

Eletrônica; Doenças do Sistema Nervoso/etiologia; Doenças Profissionais/etiologia; Exposição Ocupacional/efeitos adversos; Solventes/efeitos adversos; Adulto; Análise de Variância; Feminino; Humanos; MMPI; Masculino; Análise por Pareamento; Pessoa de Meia-Idade; Doenças do Sistema Nervoso/epidemiologia; Doenças do Sistema Nervoso/fisiopatologia; Testes Neuropsicológicos; Doenças Profissionais/epidemiologia; Doenças Profissionais/fisiopatologia; Doenças Respiratórias/etiologia; Medição de Risco; Sensibilidade e Especificidade; Local de Trabalho

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Temas: ECOS / Aspectos_gerais Bases de dados: MEDLINE Assunto principal: Solventes / Exposição Ocupacional / Eletrônica / Doenças do Sistema Nervoso / Doenças Profissionais Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Etiology_studies / Risk_factors_studies Limite: Adult / Female / Humans / Male / Middle aged Idioma: En Revista: Am J Ind Med Ano de publicação: 1995 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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