Crystallographic orientation contrast associated with Ga+ ion channelling for Fe and Cu in focused ion beam method. | J Electron Microsc (Tokyo);53(5): 571-6, 2004. | MEDLINE

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Crystallographic orientation contrast associated with Ga+ ion channelling for Fe and Cu in focused ion beam method.

Yahiro, Y; Kaneko, K; Fujita, T; Moon, W-J; Horita, Z.

Afiliación

Yahiro Y; Department of Materials Science and Engineering, Faculty of Engineering, Kyushu University, Higashi-ku, Fukuoka 812-8581, Japan.

J Electron Microsc (Tokyo) ; 53(5): 571-6, 2004.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-15582968

Asunto(s)

Cobre/química; Galio; Hierro/química; Cristalografía; Microscopía Electrónica de Rastreo

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Bases de datos: MEDLINE Asunto principal: Cobre / Galio / Hierro Tipo de estudio: Risk_factors_studies Idioma: En Revista: J Electron Microsc (Tokyo) Año: 2004 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón

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