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Advances in patterning materials for 193 nm immersion lithography.
Sanders, Daniel P.
Afiliación
  • Sanders DP; IBM Almaden Research Center, 650 Harry Road, San Jose, California 95136, USA. dsand@us.ibm.com
Chem Rev ; 110(1): 321-60, 2010 Jan.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20070116

Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Chem Rev Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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