Size-independent low-frequency Raman scattering in Ge-nanocrystal-embedded SiO2 films. | Opt Lett;35(7): 1022-4, 2010 Apr 01. | MEDLINE

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Size-independent low-frequency Raman scattering in Ge-nanocrystal-embedded SiO2 films.

Liu, L Z; Wu, X L; Gao, F; Yang, Y M; Li, T H; Chu, Paul K.

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Liu LZ; Nanjing National Laboratory of Microstructures and Department of Physics, Nanjing University, Nanjing 210093, China.

Opt Lett ; 35(7): 1022-4, 2010 Apr 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20364204

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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Lett Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: China

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