[Measurement technology for multi-parameter spectral responsivity of X-ray scintillation crystals]. | Guang Pu Xue Yu Guang Pu Fen Xi;30(8): 2184-6, 2010 Aug. | MEDLINE

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[Measurement technology for multi-parameter spectral responsivity of X-ray scintillation crystals].

Li, Rui-hong; Han, Yue-ping; Zhou, Han-chang; Han, Yan.

Afiliación

Li RH; National Key Laboratory for Electronic Measurement Technology, North University of China, Taiyuan 030051, China. li1sir@126.com

Guang Pu Xue Yu Guang Pu Fen Xi ; 30(8): 2184-6, 2010 Aug.

Article en Zh | MEDLINE | ID: mdl-20939335

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Bases de datos: MEDLINE Idioma: Zh Revista: Guang Pu Xue Yu Guang Pu Fen Xi Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: China

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