Reflectivity and scattering measurements of an Advanced X-ray Astrophysics Facility test coating sample.

Bixler, J V; Mauche, C W; Hailey, C J; Madison, L.

Appl Opt ; 34(28): 6542-51, 1995 Oct 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21060508

Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 1995 Tipo del documento: Article

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