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Narrow band, large angular width resonant reflection from a periodic high index grid at terahertz frequency.
Parriaux, Olivier; Kämpfe, Thomas; Garet, Frédéric; Coutaz, Jean-Louis.
Afiliación
  • Parriaux O; Université de Lyon, Laboratoire Hubert Curien, UMR CNRS 5516, 18 rue du Professeur Benoît Lauras, 42000 Saint-Etienne, France. olivier.parriaux@univ-st-etienne.fr
Opt Express ; 20(27): 28070-81, 2012 Dec 17.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23263043

Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Asunto principal: Refractometría / Silicio / Radiación Terahertz / Membranas Artificiales Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia

Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Asunto principal: Refractometría / Silicio / Radiación Terahertz / Membranas Artificiales Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia